RS-40 X 射線(xiàn)涂層測厚儀可測量電解線(xiàn)和浸涂線(xiàn)鋼帶上金屬涂層的非接觸式、高精度和連續沉積。
用于上下帶材側面的兩個(gè)反向散射頭可以在一個(gè)共同的 O 型框架(橫向移動(dòng))中提供,也可以作為具有兩個(gè)單獨導軌的單獨系統提供。在第一種情況下,測量是針對自由運行的條帶進(jìn)行的,而單個(gè)導軌的橫向運動(dòng)允許針對返回滑輪進(jìn)行測量。
在熱鍍鋅生產(chǎn)線(xiàn)中,測量系統可以安裝在冷、暖和熱位置。差異僅存在于測量頭和測量點(diǎn)電氣元件的冷卻和絕緣上。為了在熱位置進(jìn)行測量,我們提供了與相應生產(chǎn)線(xiàn)精確匹配的客戶(hù)特定測量裝置。
與所有 Rayonic X 射線(xiàn)源和探測器一樣,反向散射頭安裝在堅固的不銹鋼外殼中。它們由帶管的 X 射線(xiàn)源、高壓電子設備、發(fā)射控制和光束快門(mén)以及檢測器模塊組成,這些模塊僅在預過(guò)濾器方面的不同應用有所不同。
可以測量以下涂層:鋅和鋅合金(Zn / Ni、Zn / Al)、鋁、錫、銅和黃銅、鎳、鈷、鉻、鍍鋅。對于合金,除了總覆蓋層外,例如鋅和鋁是針對 Zn/Al 合金確定的??筛鶕筇峁└嗤繉?。
瑞尤尼克(Rayonic)的技術(shù)水平
解 決 問(wèn) 題 的 方 法 – R a y o n i c 方 法
對于客戶(hù)專(zhuān)用的鎳和鈷涂層測量?jì)x,Rayonic面臨雙重挑戰:
測量原理
用X射線(xiàn)熒光法測量鈷涂層非常困難,以前還沒(méi)有實(shí)現在線(xiàn)測量。 似乎這不足以構成挑戰,此外還必須測量第二層鎳涂層。 Rayonic提出了令人信服的概念,并在幾個(gè)月內實(shí)現了新穎的測量?,F有的掃描儀框架無(wú)法在電解涂層線(xiàn)的狹窄空間中使用。 通過(guò)設計一個(gè)全新的掃描儀框架來(lái)解決該問(wèn)題,該掃描儀框架以厘米精度安裝到最終位置,此后測量系統極大地節省了原材料,并優(yōu)化了涂層質(zhì)量和生產(chǎn)工藝。
材料 | 鋅 | 錫 | 鎳 |
應用 | 熱浸鍍鋅 | 熱浸鍍鋅,電解鍍鋅 | 電鍍 |
類(lèi)型 | 熱態(tài)、溫態(tài)和冷態(tài)測厚儀 | 矩形框架掃描儀,單光束 | 矩形框架掃描儀,單光束 |
運行參數 | 32kV/0.6 mA | 25kV/0.8 mA | 32kV/0.6 mA |
測量范圍 | 10 - 350 g/m2 | 0.01 - 5.0 μm | 0.01 - 10.0 μm |
測量間隙 | 30 - 60mm | 40mm | 40mm |
精度 | 0.10% | 0.10% | 0.10% |
經(jīng)常測量的金屬涂層
使用RS-40壓力計的是鋅和鋅合金(Zn / Ni,Zn / Al),鋁和錫。
其他典型應用是銅,黃銅,鎳,鈷和鉻涂層。 對于諸如Zn / Al的合金,除了總涂層厚度外,還可以選擇確定合金的成分。 對于鍍鋅涂層,需要測量鐵含量以及涂層厚度。
快速的投資回報
瑞尤尼克設計,制造和提供創(chuàng )新的測量和控制解決方案,用于連續,非接觸式測量金屬和非金屬帶材,卷材和板材的厚度和涂層厚度??焖?,非常精確的測量數據可持續監控產(chǎn)品質(zhì)量。 與自動(dòng)化系統相結合,厚度測量得以改善,保證了產(chǎn)品質(zhì)量并節省了原材料。減少廢品和降低能耗可帶來(lái)進(jìn)一步的經(jīng)濟效益
鋼板上金屬涂層厚度的測量利用了X射線(xiàn)熒光(XRF)效應。 X射線(xiàn)源的主光束直接對準要測量的材料,并在涂層和基材中產(chǎn)生二次各向同性的X射線(xiàn),即所謂的熒光輻射。
熒光輻射的能量是產(chǎn)生輻射的元素特征。鋼板中產(chǎn)生的輻射具有與涂層(如鋅層)中產(chǎn)生的熒光輻射不同的能量。使用差分濾波器的方法,可以選擇輻射的一個(gè)或另一個(gè)分量進(jìn)行測量。
安裝在測量頭中的探頭模塊在反向方向(例如,水平方向)上檢測選定的輻射分量。金屬涂層的輻射。涂層厚度的增加也增加了涂層的熒光輻射的強度。熒光輻射強度的測量可以精確確定涂層的厚度。
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鋅 |
錫 |
鎳 |
加工生產(chǎn)線(xiàn) |
熱浸鍍鋅 |
熱浸鍍和電解鍍鋅 |
電鍍 |
類(lèi)型 |
熱,溫和冷儀表 |
O型框架型掃描儀或單光束 |
O型框架型掃描儀或單光束 |
操作參數 |
32kV/0.6 mA |
25kV/0.8 mA |
32kV/0.6 mA |
測量范圍 |
10 - 350 g/m2 |
0.01 - 5.0 μm |
0.01 - 10.0 μm |
測量差 |
30 - 60mm |
40mm |
40mm |
精度 |
0.10% |
0.10% |
0.10% |