microworksX射線(xiàn)干涉儀Talint EDU

Talint EDU是X射線(xiàn)Talbot Lau干涉儀的一種巧妙簡(jiǎn)化形式，包括所有必要的硬件，以正確設置和微調干涉儀，并應用相位步進(jìn)程序，以獲得三種成像模式：吸收、相位對比度和暗場(chǎng)對比度。

硬件的設計使得，在按照我們的說(shuō)明組裝（預裝）套件后，莫爾條紋將很容易在您的探測器上看到。莫爾條紋圖案的進(jìn)一步微調可以通過(guò)使用G1和G2支架中的微米螺釘使光柵繞光軸進(jìn)行角旋轉，以直接的方式進(jìn)行。

• 由基板定義，基板是M6的試驗板，間距為25mm
• 光柵是使用X射線(xiàn)LIGA技術(shù)制造的，該技術(shù)確保了高精度和高的高寬比（縱橫比）
• 通過(guò)定位銷(xiāo)固定；對稱(chēng)設置
• 兩個(gè)光柵都可以通過(guò)調節測微螺釘繞光軸旋轉
• 包含控制器

產(chǎn)地：德國

長(cháng)度：60厘米

寬度：15厘米

高度：20厘米

光柵開(kāi)放區域

G0：15毫米

G1：70毫米

G2：70毫米

干涉儀的微調：僅調整G1和G2繞光軸的旋轉角度

樣品放置：簡(jiǎn)單的旋轉臺，可在光軸內外擺動(dòng)樣品

相位步進(jìn)：閉環(huán)壓電級。30nm分辨率

邊緣能見(jiàn)度：通常>15%

G0和G2的占空比：0.55

G0和G2的基板：400µm石墨

G1占空比：0.5

G1基板：200µm硅