RIFTEK膠帶幾何測量自動(dòng)化系統RF089

光學(xué)千分尺用于控制帶的幾何參數。

操作基于所謂的“影子”原則。千分尺由兩部分組成——發(fā)射器和接收器。半導體激光器或 LED的輻射由透鏡直。將膠帶放置在準直光束區域，用 CCD 光電探測器陣列掃描形成的陰影圖像。處理器計算出光的位置（大?。?磁帶從陰影邊界（邊界）的位置。

膠帶厚度計算為膠帶和軸的陰影邊界位置之間的差異。軸的陰影邊界位置由獨立的千分尺控制。

該系統包含一組 6 個(gè)光學(xué)千分尺用于同時(shí)控制膠帶寬度和一組 9 微米，其中 6 個(gè)用于同時(shí)控制膠帶厚度和3 個(gè)（輔助千分尺） - 用于控制軸表面位置。所有千分尺在交換中心通過(guò)RS485接口聯(lián)網(wǎng)，交換中心還包括整個(gè)系統的電源。該系統包含設計用于數據處理、指示測量結果和數據存儲的控制器 (PDA)。

該系統旨在控制膠帶的幾何參數（寬度和厚度）和溫度，特別是在制造過(guò)程中的打包帶。

該系統已應用于批量生產(chǎn)。生產(chǎn)線(xiàn)上安裝。

可以針對特定任務(wù)更改系統的技術(shù)特性。