FORMFACTOR集成測量系統IMS-K-Power

在晶圓上而非封裝內測試 Si 和GaN/SiC 器件時(shí)，研發(fā)工程師和測試操作員面臨著(zhù)收集高精度數據的一些挑戰。其中包括需要在高電壓下抗電弧的探針和系統、用于高電流的低電阻探針和晶圓接觸，以及對薄晶圓的特殊處理。同時(shí)，對“快速獲取準確數據”的需求需要快速輕松地設置復雜的高功率測試配置，同時(shí)考慮到操作員和設備。Keysight的緊密集成儀器完善了系統，以提供測量精度和可重復性。

來(lái)自 FormFactor 的預先驗證、交鑰匙、綜合、集成的測量系統為重要的測試應用提供安心和即時(shí)、開(kāi)箱即用的生產(chǎn)力。

這些是免費提供的。FormFactor 的 IMS 解決方案不包括Keysight定價(jià)或集成費用的加價(jià)。

這個(gè)功率半導體器件表征系統建立在研發(fā)儀器領(lǐng)域和分析探針系統領(lǐng)域——FormFactor IMS-K-Power 的基礎之上。

配備 Keysight PDA 的全面、交鑰匙集成測量系統 (IMS) 用于晶圓上研發(fā)功率半導體器件特性測量

業(yè)界有效率、準確的功率半導體器件表征系統

實(shí)現高質(zhì)量測量的更快、更經(jīng)濟的途徑