TRIOPTICS厚度測量?jì)xOptiSurf IR

測量系統 OptiSurf IR 允許測量紅外鏡頭的中心厚度和空氣距離。

OptiSurf 非常適合非接觸式測量單透鏡和平面光學(xué)元件的中心厚度以及測量光學(xué)系統中的氣隙。低相干干涉儀只需一次掃描操作即可測量光學(xué)系統中的所有表面距離，精度高達 0.15 µm。其創(chuàng )新的對齊方式、可調節的樣品托盤(pán)和直觀(guān)的軟件可以簡(jiǎn)單的方式準確定位和測量鏡頭和光學(xué)系統。這使得 OptiSurf 特別適合在生產(chǎn)中使用。

• 中心厚度和氣隙的高精度測量
• 測量所有紅外材料
• 5 µm 的測量精度
• 帶自動(dòng)對焦的測量頭
• 可選與 OptiCentic IR 組合以實(shí)現對紅外鏡頭系統的完全對準控制
• 用于初步對準樣品的集成視覺(jué)激光束
• 軟件

OptiSurf Professional

OptiSurf Professional 軟件可以快速地測量和分析光學(xué)系統中的中心厚度和氣隙。透鏡系統方案中的信號曲線(xiàn)和顏色標記都允許快速得出關(guān)于測量的合理性和完整性的結論。通過(guò)統計評估進(jìn)行多次測量可以進(jìn)行高度可靠的評估。

光學(xué)對準工具，用于快速輕松地對準樣品和集成在儀器底座中的測量頭

經(jīng)認證的 0.5“ 參考樣品，可溯源至國際標準